5200T 可焊性测试仪(沾锡天平)适用于Wetting Balance 与 Dip and Look 的测试与评价,5200T可针对助焊剂、焊锡等焊接材料以及各种电 子元器件、PCB的可焊性进行测试与评价。 近年来被广泛应用于无铅焊料(Lead-free Soldering)的开发研究及 生产工艺技术与品质管理的*。 5200T的特性就是仪器本身的稳定性与灵敏度及其测试精度的高度的一 致性、减轻测试负担的同时、得到更好更*的再现性、可广泛运用于不 同领域里的可焊性及润湿性的测试与评价。
5200T 可焊性测试仪(沾锡天平)
适用国际、*、行业规格标准 • IEC 60068-2-54 • JIS C 60068-2-69 • JEITA ET-7401 • IEC 60068-2-69 • JIS C 60068-2-54 • JEITA ET-7404 • */EIA J-STD-002B • JIS Z 3198-4 • JEITA ET-7411 • */EIA J-STD-003B • JIS C 0099 • 自定规格可设定 • MIL STD 883
Micro电子天平: 改良的Micro电子天平搭乘控制系统可自动进行*调整,减少了测试负 担,自动显示天平的平衡状态,从而*天平*终自动调平的状态,这种 新型Micro电子天平能加快润湿力的应答速度,进一步*了测试结果 的再现性,使动态润湿力与时间的分解能*0.01mN以下。
磁性样品夹具: *了样品夹具的装接性能,用磁性夹具将样品固定在主机的连接处, *样品开始测试的位置,从而得到更*的再现性。
5200T主机单体测试与使用PC测试: 为了增强了主机的单独测试性能,搭载了触摸屏,不但可以设定各项条 件,还可以同时看到相应的测试数据及曲线分析,也可以与PC并用测 试,使其*更好的分析能力。 为了能*更好的再现性,采用了Micro微调与基点定位
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